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半導體制程潔凈室及晶圓制造
一、潔凈室
一般的機械加工是不需要潔凈室(cleanroom)的,因為加工分辨率在數十微米以上,遠比日常環境的微塵顆粒為大。但進入半導體組件或微細加工的世界,空間單位都是以微米計算,因此微塵顆粒沾附在制作半導體組件的晶圓上,便有可能影響到其上精密導線布局的樣式,造成電性短路或斷路的嚴重后果。
為此,所有半導體制程設備,都必須安置在隔絕粉塵進入的密閉空間中,這就是潔凈室的來由。潔凈室的潔凈等級,有一公認的標準,以class10為例,意謂在單位立方英呎的潔凈室空間內,平均只有粒徑0.5微米以上的粉塵10粒。所以class后頭數字越小,潔凈度越佳,當然其造價也越昂貴(參見圖2-1)。
為營造潔凈室的環境,有專業的建造廠家,及其相關的技術與使用管理辦法如下:
1、內部要保持大于一大氣壓的環境,以確保粉塵只出不進。所以需要大型鼓風機,將經濾網的空氣源源不絕地打入潔凈室中。
2、為保持溫度與濕度的恒定,大型空調設備須搭配于前述之鼓風加壓系統中。換言之,鼓風機加壓多久,冷氣空調也開多久。
3、所有氣流方向均由上往下為主,盡量減少突兀之室內空間設計或機臺擺放調配,使粉塵在潔凈室內回旋停滯的機會與時間減至低程度。
4、所有建材均以不易產生靜電吸附的材質為主。
5、所有人事物進出,都必須經過空氣吹浴(airshower)的程序,將表面粉塵先行去除。
6、人體及衣物的毛屑是一項主要粉塵來源,為此務必嚴格要求進出使用人員穿戴無塵衣,除了眼睛部位外,均需與外界隔絕接觸(在次微米制程技術的工廠內,工作人員幾乎穿戴得像航天員一樣。)當然,化妝是在禁絕之內,鉛筆等也禁止使用。
7、除了空氣外,水的使用也只能限用去離子水(DIwater,de-ionizedwater)。一則防止水中粉粒污染晶圓,二則防止水中重金屬離子,如鉀、鈉離子污染金氧半(MOS)晶體管結構之帶電載子信道(carrierchannel),影響半導體組件的工作特性。去離子水以電阻率(resistivity)來定義好壞,一般要求至17.5MΩ-cm以上才算合格;為此需動用多重離子交換樹脂、RO逆滲透、與UV紫外線殺菌等重重關卡,才能放行使用。由于去離子水是佳的溶劑與清潔劑,其在半導體工業之使用量極為驚人!
8、潔凈室所有用得到的氣源,包括吹干晶圓及機臺空壓所需要的,都得使用氮氣(98),吹干晶圓的氮氣甚至要求99.8以上的高純氮! 以上八點說明是基本的要求,另還有污水處理、廢氣排放的環保問題,再再需要大筆大筆的建造與維護費用!
二、晶圓制作
硅晶圓(siliconwafer)是一切集成電路芯片的制作母材。既然說到晶體,顯然是經過純煉與結晶的程序。目前晶體化的制程,大多是采「柴可拉斯基」(Czycrasky)拉晶法(CZ法)。拉晶時,將特定晶向(orientation)的晶種(seed),浸入過飽和的純硅熔湯(Melt)中,并同時旋轉拉出,硅原子便依照晶種晶向,乖乖地一層層成長上去,而得出所謂的晶棒(ingot)。晶棒的阻值如果太低,代表其中導電雜質(impuritydopant)太多,還需經過FZ法(floating-zone)的再結晶(re-crystallization),將雜質逐出,提高純度與阻值。
輔拉出的晶棒,外緣像椰子樹干般,外徑不甚一致,需予以機械加工修邊,然后以X光繞射法,定出主切面(primaryflat)的所在,磨出該平面;再以內刃環鋸,削下一片片的硅晶圓。后經過粗磨(lapping)、化學蝕平(chemicaletching)與拋光(polishing)等程序,得出具表面粗糙度在0.3微米以下拋光面之晶圓。(至于晶圓厚度,與其外徑有關。)
剛才題及的晶向,與硅晶體的原子結構有關。硅晶體結構是所謂「鉆石結構」(diamond-structure),系由兩組面心結構(FCC),相距(1/4,1/4,1/4)晶格常數(latticonstant;即立方晶格邊長)疊合而成。我們依米勒指針法(Millerindex),可定義出諸如:{100}、{111}、{110}等晶面。所以晶圓也因之有{100}、{111}、{110}等之分野。有關常用硅晶圓之切邊方向等信息,請參考圖2-2。
現今半導體業所使用之硅晶圓,大多以{100}硅晶圓為主。其可依導電雜質之種類,再分為p型(周期表III族)與n型(周期表V族)。由于硅晶外貌完全相同,晶圓制造廠因此在制作過程中,加工了供辨識的記號:亦即以是否有次要切面(secondaryflat)來分辨。該次切面與主切面垂直,p型晶圓有之,而n型則闕如。
{100}硅晶圓循平行或垂直主切面方向而斷裂整齊的特性,所以很容易切成矩形碎塊,這是早期晶圓切割時,可用刮晶機(scriber)的原因(它并無真正切斷芯片,而只在表面刮出裂痕,再加以外力而整齊斷開之。)事實上,硅晶的自然斷裂面是{111},所以雖然得到矩形的碎芯片,但斷裂面卻不與{100}晶面垂直!
以下是訂購硅晶圓時,所需說明的規格:項目說明
晶面{100}、{111}、{110}±1o
外徑(吋)3456
厚度(微米)300"450450"600550"650600"750(±25)
雜質p型、n型
阻值(Ω-cm)0.01(低阻值)"100(高阻值)
制作方式CZ、FZ(高阻值)
拋光面單面、雙面
平坦度(埃)300"3,000
資源來源:www.textluoli.cn TEL:13570963007
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